嚴格地說，國外目前沒有專門命名為半導體照明的標準，只有有關普通 LED的測試標準和與普通光源有關的照明方面的標準。普通LED的測試標準有：

（ 1）IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

IEC60747-5半導體分立器件及集成電路

（ 2）IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)

IEC60747-5-2分立半導體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

（ 3）IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)

IEC60747-5-3分立半導體器件及集成電路

零部件 5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)

（ 4）IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)

IEC60747-12-3半導體分立器件12-3：光電子器件—顯示用發(fā)光二極管空白詳細標準（1998-02）

（ 5）CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)

CIE127-1997 LED測試方法（1997）

（ 6） CIE/ISO standards on LED intensity measurements

CIE/ISO LED強度測試標準

國際照明委員會（ CIE）1997年發(fā)表 CIE127-1997 LED測試方法 ， 把 LED 強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結構和探測器大小，這樣就為 LED 準確測試比對奠定了基礎。雖然CIE 127－1997 測試方法 并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。 但是隨著技術的快速發(fā)展，許多新的 LED技術特性 CIE127-1997 LED測試方法 沒有涉及。

　　目前，隨著半導體照明產業(yè)的快速發(fā)展，發(fā)達國家非常重視 LED測試標準的制訂。如美國國家標準檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標準。同時，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，制訂半導體照明測試標準。如2002年10月28日，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進行各自LED技術的交叉授權，并準備聯(lián)合制訂功率型LED標準，以推動市場應用。

2. 國內相關標準現(xiàn)狀

　　國內目前沒有較全面的 LED及其照明器具國家和行業(yè)測試標準，也沒有相應的檢測系統(tǒng)。在生產中企業(yè)往往以樣管封存的參數(shù)為對比依據(jù)。不同性質的相關生產廠家、用戶、研究所、高校經(jīng)常對此存在很大的爭議，這種在學術界內部、企業(yè)界內部及相互之間對標準認識的不一致嚴重阻礙了產品的應用和產業(yè)化的發(fā)展。雖然有一些 企業(yè)和研究機構采購了部分檢測設備，由于缺少專業(yè)的研究，導致設備水平低、儀器配套性差、檢測精度低，而且檢測結果相互之間不好對比，測試項目不能滿足用戶需要。國內專業(yè)檢測機構曾經(jīng)開展過一些 LED的測試研究工作，但由于條件所限，尚不能形成完整的檢測評價系統(tǒng)，檢測水平與國外發(fā)達國家有較大差距。 

　從八十年代初起，我國相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關的行業(yè)標準和國家標準。 國內現(xiàn)有與 LED測試有關的標準有：

（ 1） Sj2353.3-83半導體發(fā)光二極管測試方法

（ 2） Sj2658－86 半導體紅外發(fā)光二極管測試方法

（ 3）GB/T12561—1990發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

（ 4）GB/T15651－1995半導體器件分立器件和集成電路：光電子器件（國家標準） 

（ 5）GB/T18904.3—2002半導體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范（采用IEC60747-12-3:1998）

（ 6） 半導體分立器件和集成電路第 5 － 2 部分：光電子器件基本額定值和特性（國家標準；制訂中）

（ 7）半導體分立器件和集成電路第 5 － 3 部分：光電子器件測試方法（國家標準；制訂中）

（ 8） 半導體發(fā)光二極管測試方法（中國光協(xié)光電器件分會標準； 2002）